X-Strata920 是一款高精度臺式 XRF 分析儀，具有多種選擇，可容納多種類型的樣品。該分析儀非常適合測量各種基材上的鍍層，是必須確定產品質量的電子產品、連接器、裝飾品和珠寶分析的理想選擇。

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀的優勢在于其多功能性。您可以從多種配置中進行選擇，包括五種基本配置以適應不同尺寸的樣品、六種準直器尺寸用于優化分析不同尺寸的特征，以及有助于加快測量過程同時保持準確性的附加自動化功能。X-Strata920 易于使用，軟件直觀，可由非專業人員操作，并可輕松融入您的生產或質量保證部門。

產品亮點

X-Strata920 X射線熒光鍍層測厚儀具有多種選項和多功能性，可容納各種樣品，每次都能提供精確的分析。

• 適應性設計，可對各種產品進行可靠分析

• 自動對焦和可選的程控臺提高了準確性和速度

• 直觀的 SmartLink 軟件使測量和導出數據變得容易

• 多準直器設計為每個樣品提供高準確性

• 選擇適合應用的比例計數器或硅漂移檢測器 (SDD)

• 符合行業規范，例如 IPC-4552A、ISO3497、ASTM B568 和 DIN50987

• 簡單的樣品加載和快速分析可在幾秒鐘內提供結果

• 強大的光學分析單層和多層鍍層，包括合金層

對比型號